电子元件在高低温热冲击环境试验箱检测

        电子元件的制造商竭尽全力使他们生产零件和设备小型化，在科技技术上更一步提高。然而，太过小型化也引起了人们对这些小型部件的安全性和可靠性的关注。较小的尺寸使这些产品特别容易受到热应力的影响。在制造过程或 终使用过程中可能会产生严重的温度适应力。制造商现在转向严格的环境测试方法，以确保这些产品具有高质量和可靠性。

        热冲击是环境试验的一种方法，它使产品经受高温和低温的交替极端。这种类型的测试允许观察由不同材料及其热膨胀系数引起的产品特性变化和故障发生。尽管传统上按照军用测试标准执行，但如今大多数商业可靠性和质量控制程序也要求快速和极端的温度变化。林频提供了几种能够满足各种测试需求的热冲击室配置。

        垂直双区室有可独立控制的冷热区。一个单篮产品载体在冷热区之间移动，使产品受到温度剧烈变化的影响。

        林频高低温试验箱的水平三区热激波室采用三个温度控制区：热、环境和冷。产品从环境温度移动到高温，或从环境温度移动到低温。如果需要的话，可以将试验箱编程为包括环境区的停留时间。水平热震室可用于进行3区或传统的2区测试，以增加通用性。